Развитие методов микроскопии и спектроскопии для изучения структуры и свойств материалов
Изучение материалов на микро- и наноуровнях является краеугольным камнем современной науки и техники. От характеристик атомной решетки до распределения элементов по объему материала, от топографии поверхности до электронных состояний – все эти параметры определяют свойства и функциональность материала. В связи с этим, развитие методов микроскопии и спектроскопии, позволяющих «заглянуть внутрь» материи с беспрецедентной точностью, играет … Читать далее